Продукция
 

Международные стандарты ISO 3290 — Третий выпуск — 2001/12/01

 

ДОПУСКИ НА НЕРОВНОСТИ ФОРМЫ И ПОВЕРХНОСТИ


КЛАСС РАЗБРОС ДИАМЕТРА ШАРА VDws ОТКЛОНЕНИЕ ОТ СФЕРИЧНОСТИ НЕРОВНОСТЬ RaКЛАСС
G 3 0,08 0,080 0,010
G 5 0,13 0,13 0,014
G 10 0.25 0.25 0.020
G 16 0.4 0.4 0.025
G 20 0.5 0.5 0.5
G 24 0.6 0.6 0.040
G 28 0.7 0.7 0.050
G 40 1 1 0.060
G 60 1.5 1.5 0.080
G 100 2.5 2.5 0.100
G 200 5 5 0.150

 

ДОПУСКИ СОРТИРОВКИ И ИНДЕКСЫ ОТКЛОНЕНИЯ


КЛАСС РАЗБРОС ДИАМЕТРА ШАРА VDwL МЕРНЫЙ ИНТЕРВАЛ IG ПРЕДПОЧТИТЕЛЬНЫЕ ИНДЕКСЫ ОТКЛОНЕНИЯ МЕРНЫЙ ПОДЫНТЕРВАЛ СУБИНДЕКСЫ
G 3 0.13 0.5 -5,…-0.5, 0, +0.5,…+5 0.1 -0.2, -0.1, 0, +0.1,+0.2
G 5 0.25 1 -5,…-1, 0, +1,…+5 0.2 -0.4, -0.2, 0, +0.2, +0.4
G 10 0.5 1 -9,…-1, 0, +1,…+9 0.2 -0.4, -0.2, 0, +0.2, +0.4
G 16 0.8 2 -10,…-2, 0, +2,…+10 0.4 -0.8, -0.4, 0, +0.4, +0.8
G 20 1 2 -10,…-2, 0, +2,…+10 0.4 -0.8, -0.4, 0, +0.4, +0.8
G 24 1.2 2 -12,…-2, 0, +2,…+12 0.4 -0.8, -0.4, 0, +0.4, +0.8
G 28 1.4 2 -12,…-2, 0, +2,…+12 0.4 -0.8, -0.4, 0, +0.4, +0.8
G 40 2 4 -16,…-4, 0, +4,…+16 0.8 -1.6, -0.8, 0, +0.8, +1.6
G 60 3 6 -18,…-6, 0, +6,…+18 1.2 -2.4, -1.2, 0, +1.2, +2.4
G 100 5 10 -40,…-10, 0, +10,…+40 2 -4, -2, 0, +2, +4
G 200 10 15 -60,…-15, 0, +15,…+60 3 -6, -3, 0, +3, +6

ТЕРМИНЫ И ОПРЕДЕЛЕНИЯ

Номинальный диаметр шара — Dw: величина диаметра, которая используется для общей идентификации размера шара.

Одиночный диаметр шара — Dws: расстояние между двумя параллельными плоскостями, касательными к действительной поверхности шара.

Средний диаметра шара — Dwm: арифметическое среднее наибольшего и наименьшего одиночных диаметров шара. Разброс диаметра шара — VDws: разность между наибольшим и наименьшим одиночными диаметрами шара. Неровности поверхности и параметры формы: различные типы отклонений от идеальной сферической поверхности, равномерно распределенные по поверхности шара.

ПРИМЕЧАНИЕ: отклонения, на которые могут быть наложены ограничения: отклонение от сферичности — волнистость — шероховатость поверхности.

Отклонение от сферичности — tDw: наибольшее расстояние по радиусу, в любой экваториальной плоскости, между наименьшей описанной и наибольшей вписанной сферами, центры которых совпадают со сферой наименьшего среднеквадратичного отклонения.

ПРИМЕЧАНИЕ: информация об измерении этого отклонения приведена в приложении А.

Волнистость: неровности поверхности случайного либо периодического характера, приводящие к отклонению от сферичности поверхности.

ПРИМЕЧАНИЕ: на практике рекомендуется оценивать волнистость как амплитуду скорости, выделяя компоненты этого отклонения с помощью фильтров.

Шероховатости поверхности: неровности, относительно недалеко отстоящие друг от друга, которые обычно включают погрешности метода производства или другие факторы.

ПРИМЕЧАНИЕ: такие неровности оцениваются в общепринятых величинах, например, по длине выборки.

Дефекты поверхности: неровность или группа неровностей поверхности, случайно возникшая в процессе изготовления, хранения или использования поверхности.

ПРИМЕЧАНИЕ: данный тип отклонения существенно отличается от обычной шероховатости и не должен приниматься во внимание в процессе её измерения (см. 4.2, примечание 2). Дефекты поверхности (и их ограничения) не регламентируются международным стандартом.

Партия шаров: определяет количество шаров, изготовленных при условиях, считающихся одинаковыми, и рассматриваемых как одно целое.

Средний диаметр партии шаров — DwmL: арифметическое среднее средних значений диаметров наибольшего и наименьшего шаров в партии.

Разброс диаметров шаров партии — VdwL: разность между средними значениями диаметров наибольшего и наименьшего шаров в партии.

Класс шара — G: определённая комбинация допусков на размер, форму и неровности поверхности шаров.

ПРИМЕЧАНИЕ: класс шара обозначается буковй G и числом.

Индекс отклонения — S: величина, на которую должен отличаться средний диаметр шаров в партии от номинального диаметра шара, этот параметр принимает значения из определённого ряда.

ПРИМЕЧАНЕ 1: каждый индекс отклонения — множество интервалов, установленных для данного класса шара (см. таблицу 3 и приложение В).

ПРИМЕЧАНИЕ 2: индекс отклонения в комбинации с классом шара и номинальным диаметром, должен рассматриваться как наиболее точный размер шара в спецификациях, используемых покупателем при заказе.

Отклонение партии шаров от калибра шара — DS: разность между средним диаметром шара в партии и суммой номинального диаметра и индексом отклонения DS = DwmL — (Dw+S). См. таблицу 3 и приложение В. Субиндекс отклонения: величина в установленном ряду величин, наиболее близкая к действительному отклонению партии шаров от индекса отклонения.

ПРИМЕЧАНИЕ 1: каждый субиндекс отклонения — это множество подынтервалов, установленных для данного класса шара (см. таблицу 3 и приложение В).

ПРИМЕЧАНИЕ 2: субиндекс отклонения, в комбинации с номинальным диаметром шара и индексом отклонения, используется производителями шаров для обозначения среднего диамтера шара в партии и не должен использоваться покупателем при заказе.

Твёрдость: мера сопротивляемости проникновению, определяемая специальными методами.

ТРЕБОВАНИЯ

Размер шара: предпочтительные размеры шаров даны в таблице 1. Там, где это важно для применения, в справочных целях приведены соответствующие размеры в дюймах.

Качество геометрии поверхности: требования к разбросу диаметра шара — см. таблицу 2, отклонению от сферичности — см. таблицу 2, волнистость — см. примечание 1, шероховатость поверхности — см. таблицу 2, дефекты поверхности — см. примечание 2. Измерение шероховатости поверхности должно быть произведено в соответствии с ISO 4288.

ПРИМЕЧАНИЕ 1: поставщик и покупатель должны согласовать ограничения и методы измерения волнистости.

ПРИМЕЧАНИЕ 2: поставщик и покупатель должны также согласовать характеристики внешнего вида поверхности, локальных дефектов, царапин и т.п.

Точность сортировки и индексы отклонения: таблица 3 содержит используемые значения для: разброса диаметра шара, интервал сортировки, предпочтительные отклонения, подынтервалы сортировки и субиндексы отклонения.

Твёрдость: значения твёрдости и метода измерения должны быть согласованы поставщиком и покупателем.

МЕТОД ОЦЕНКИ ОТКЛОНЕНИЯ ОТ СФЕРИЧНОСТИ ИЗМЕРЕНИЕ

ОТКЛОНЕНИЯ ПО РАДИУСУ

Измерение отклонения от сферической формы шаров должно быть выполнено путём измренеия отклонения от окружности в требуемом числе экваториальных плоскостей. Оценка отклонения от окружности в конкретной экваториальной плоскости может быть выполнена вычислением «центра наименьшего квадратичного отклонения». Наибольшее расстояние по радиусу в любой экваториальной плоскости и принимается за отклонение от сферичности. Отклонение от окружности измеряется в трёх экваториальных плоскостях, расположенных под углом 90° одна к другой. Для детального описания методов оценки отклонения от окружности см. ISO 4291.